Draft
International Standard
ISO/DIS 16666
Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence — Principles and general requirements
Reference number
ISO/DIS 16666
Edition 1
Projet Norme internationale
Preview
ISO/DIS 16666
84747
Indisponible en français
Projet de Norme internationale au stade enquête auprès des membres de l’ISO.

ISO/DIS 16666

ISO/DIS 16666
84747
Langue
Format
CHF 65
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Résumé

This document specifies terms and definitions for analytical methods where elements are identified and their concentrations determined by measuring X ray fluorescence radiation. The aim of this document is to establish terms and definitions for TXRF and to match these with terms and definitions relating to X ray fluorescence analysis.

Informations générales

  •  : Projet

    Vous pouvez contribuer à l’élaboration de ce projet de Norme internationale en contactant le membre national

    : Mise au vote du DIS: 12 semaines [40.20]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 10
    71.040.40 
  • RSS mises à jour

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