Draft
International Standard
ISO/DIS 16666
Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence — Principles and general requirements
Reference number
ISO/DIS 16666
Edition 1
© ISO 2025
Proyecto Norma internacional
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No disponible en español
En desarrollo
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ISO/DIS 16666

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Resumen

This document specifies terms and definitions for analytical methods where elements are identified and their concentrations determined by measuring X ray fluorescence radiation. The aim of this document is to establish terms and definitions for TXRF and to match these with terms and definitions relating to X ray fluorescence analysis.

Informaciones generales

  • Estado
     : En desarrollo

    Puede contribuir al desarrollo del borrador de esta norma internacional. Para ello, contacte con su miembro nacional

    Etapa
    : Voto sobre el DIS iniciado: 12 semanas [40.20]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 24
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 201/SC 10
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Esta norma contribuye a los siguientes Objetivos de Desarrollo Sostenible

3
Good Health and Well-being
4
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6
Clean Water and Sanitation
7
Affordable and Clean Energy
9
Industry, Innovation and Infrastructure
13
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