International Standard
ISO 20263:2024
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Reference number
ISO 20263:2024
Edition 2
2024-11
© ISO 2024
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2024)

ISO 20263:2024

Язык
Формат
CHF 173
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies a procedure for the determination of the averaged interface position between two different layered materials recorded in the cross-sectional image of the multi-layered material. This document does not apply for determining the simulated interface of the multi-layered materials expected through the multi-slice simulation (MSS) method.

This document is applicable to the cross-sectional images of multi-layered materials recorded using a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) and cross-sectional elemental mapping images using an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) or an electron energy loss spectrometer (EELS). This document is also applicable to digitized images recorded on an image sensor built into a digital camera, a digital memory set in the PC or an imaging plate, where the digitalized image is obtained by converting an analogue image recorded on photographic film using an image scanner.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2024-11
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 3
    ICS :
    37.020  71.040.50 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 3
  6. ISO 20263:2024