Reference number
ISO 29301:2023
International Standard
ISO 29301:2023
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
Edition 3
2023-10
Preview
ISO 29301:2023
86942
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 3, 2023)

ISO 29301:2023

ISO 29301:2023
86942
Язык
Формат
CHF 173
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies a calibration procedure applicable to images recorded over a wide magnification range in a transmission electron microscope (TEM). The reference materials used for calibration possess a periodic structure, such as a diffraction grating replica, a super-lattice structure of semiconductor or an analysing crystal for X-ray analysis, and a crystal lattice image of carbon, gold or silicon.

This document is applicable to the magnification of the TEM image recorded on a photographic film, or an imaging plate, or detected by an image sensor built into a digital camera. This document also refers to the calibration of a scale bar.

This document does not apply to the dedicated critical dimension measurement TEM (CD-TEM) and the scanning transmission electron microscope (STEM).

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2023-10
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 3
  • ISO/TC 202/SC 3
    37.020 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ