Рабочий проект
ISO/WD TR 23683
Surface chemical analysis — scanning probe microscopy — Guideline for experimental quantification of carrier concentration in semiconductor devices by using electric scanning probe microscopy
Ссылочный номер
ISO/WD TR 23683
Версия 1
Рабочий проект
ISO/WD TR 23683
76654
Проект данного международного стандарта был подготовлен рабочей группой.

Общая информация

  •  : В стадии разработки
    : Рабочий проект принят для регистрации в качестве проекта комитета [20.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 9
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ