Reference number
ISO 17915:2018
International Standard
ISO 17915:2018
Optics and photonics — Measurement method of semiconductor lasers for sensing
Edition 1
2018-05
Preview
ISO 17915:2018
72946
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2018)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2023. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 17915:2018

ISO 17915:2018
72946
Язык
Формат
CHF 151
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications.

This document is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2018-05
    : Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
  •  : 1
  • ISO/TC 172/SC 9
    31.260 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ