International Standard
ISO 17867:2020
Particle size analysis — Small angle X-ray scattering (SAXS)
Reference number
ISO 17867:2020
Версия 2
2020-10
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2020)

ISO 17867:2020

Формат
Язык
CHF 151
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies a method for the application of small-angle X-ray scattering (SAXS) to the estimation of mean particle sizes in the 1 nm to 100 nm size range. It is applicable in dilute dispersions where the interaction and scattering effects between the particles are negligible. This document describes several data evaluation methods: the Guinier approximation, model-based data fitting, Monte-Carlo?based data fitting, the indirect Fourier transform method and the expectation maximization method. The most appropriate evaluation method is intended to be selected by the analyst and stated clearly in the report. While the Guinier approximation only provides an estimate for the mean particle diameter, the other methods also give insight in the particle size distribution.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2020-10
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 24/SC 4
    ICS :
    19.120 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 24/SC 4
  6. ISO 17867:2020