International Standard
ISO 20263:2017
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Reference number
ISO 20263:2017
Версия 1
2017-11
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2017)

ISO 20263:2017

Формат
Язык
CHF 173
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 20263:2017 specifies a procedure for the determination of averaged interface position between two different layered materials recorded in the cross-sectional image of the multi-layered materials. It is not intended to determine the simulated interface of the multi-layered materials expected through the multi-slice simulation (MSS) method. This document is applicable to the cross-sectional images of the multi-layered materials recorded by using a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) and the cross-sectional elemental mapping images by using an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) or an electron energy loss spectrometer (EELS). This document is also applicable to the digitized image recorded on an image sensor built into a digital camera, a digital memory set in the PC or an imaging plate and the digitalized image converted from an analogue image recorded on the photographic film by an image scanner.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2017-11
    Этап
    : Между-народный стандарт подлежит пересмотру [90.92]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 3
    ICS :
    37.020  71.040.50 
  • RSS обновления

Новая версия в процессе разработки

Draft International Standard
ISO/DIS 20263
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Reference number
ISO/DIS 20263
Версия 1
© ISO 2024
Draft
International Standard
Предпросмотр

ISO/DIS 20263

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

ISO/DIS 20263

Формат
Язык
CHF 63
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 37
  6. 37.020
  7. ISO 20263:2017