Reference number
ISO 17470:2014
© ISO 2024
International Standard
ISO 17470:2014
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Edition 2
2014-01
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2014)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2019. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 17470:2014

Язык
Формат
CHF 63
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 17470:2014 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2014-01
    Этап
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 2
    ICS :
    71.040.99 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 71
  6. 71.040
  7. 71.040.99
  8. ISO 17470:2014