International Standard
ISO 23833:2013
Microbeam analysis — Electron probe microanalysis (EPMA) — Vocabulary
Reference number
ISO 23833:2013
Версия 2
2013-04
© ISO 2024
International Standard
Предпросмотр
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 2, 2013)

ISO 23833:2013

Формат
Язык
CHF 42
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 23833:2013 defines terms used in the practices of electron probe microanalysis (EPMA). It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order.

ISO 23833:2013 is applicable to all standardization documents relevant to the practices of EPMA. In addition, some parts of ISO 23833:2013 are applicable to those documents relevant to the practices of related fields (SEM, AEM, EDX, etc.) for definition of those terms common to them.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2013-04
    Этап
    : Рассылка краткого отчета о пересмотре [90.60]
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет :
    ISO/TC 202/SC 1
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 01
  6. 01.040
  7. 01.040.71
  8. ISO 23833:2013