Reference number
ISO 20341:2003
International Standard
ISO 20341:2003
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
Edition 1
2003-07
Preview
ISO 20341:2003
34162
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2003)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2019. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 20341:2003

ISO 20341:2003
34162
Язык
Формат
CHF 42
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 20341:2003 specifies procedures for estimating three depth resolution parameters, viz the leading-edge decay length, the trailing-edge decay length and the Gaussian broadening, in SIMS depth profiling using multiple delta-layer reference materials.

It is not applicable to delta-layers where the chemical and physical state of the near-surface region, modified by the incident primary ions, is not in the steady state.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2003-07
    : Систематический пересмотр международного стандарта [90.20]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 6
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ