Ссылочный номер
ISO 6342:1993
ISO 6342:1993
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Версия 1
1993-08
В время отменен
ISO 6342:1993
12641
Отозвано (Версия 1, 1993)

Тезис

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 1993-08
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 171/SC 2
    37.080 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ