Norme internationale
ISO 17915:2018
Optique et photonique — Méthode de mesure des lasers semi-conducteurs pour la sensibilité
Numéro de référence
ISO 17915:2018
Edition 1
2018-05
© ISO 2024
Norme internationale
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Indisponible en français
Publiée (Edition 1, 2018)
Cette norme a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2023. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 17915:2018

Format
Langue
CHF 151
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Résumé

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications.

This document is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields.

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2018-05
    Stade
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  • Edition
     : 1
  • Comité technique :
    ISO/TC 172/SC 9
    ICS :
    31.260 
  • RSS mises à jour

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Cette norme contribue à l'Objectif de développement durable suivant

9
Industrie, innovation et infrastructure

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