Norme internationale
ISO 17901-2:2015
Optique et photonique — Holographie — Partie 2: Méthodes de mesurage des caractéristiques d'enregistrement holographique
Numéro de référence
ISO 17901-2:2015
Edition 1
2015-07
© ISO 2024
Norme internationale
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Indisponible en français
Publiée (Edition 1, 2015)
Cette norme a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2020. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 17901-2:2015

Format
Langue
CHF 129
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Résumé

ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2015-07
    Stade
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  • Edition
     : 1
  • Comité technique :
    ISO/TC 172/SC 9
    ICS :
    31.020 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Objectifs de développement durable

Cette norme contribue à l'Objectif de développement durable suivant

9
Industrie, innovation et infrastructure

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