ISO 24173:2009
Analyse par microfaisceaux — Lignes directrices pour la mesure d'orientation par diffraction d'électrons rétrodiffusés
Numéro de référence
ISO 24173:2009
Edition 1
2009-09
Annulée
ISO 24173:2009
42052
Annulée (Edition 1, 2009)

Résumé

L'ISO 24173:2009 fournit des recommandations sur la façon de produire des mesures d'orientation cristallographique fiables et reproductibles en utilisant la diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD). Elle aborde les conditions de préparation des échantillons, la configuration de l'instrument, l'étalonnage et l'acquisition des données.

Informations générales

  •  : Annulée
     : 2009-09
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  •  : 1
     : 45
  • ISO/TC 202
    71.040.50 
  • RSS mises à jour

Cycle de vie

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)