Resumen
ISO 15470:2017 describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer are described.
Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 2017-03Etapa: Norma Internacional confirmada [90.93]
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Edición: 2Número de páginas: 5
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Comité Técnico :ISO/TC 201/SC 7ICS :71.040.40
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RetiradaISO 15470:2004
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