Sobre
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Secretaría: SAC (China)
Responsable de comité: -
Presidente/a (hasta el final 2024):Mr Jiang Zhao
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Responsable de programa técnico de ISO [TPM]:Responsable editorial de ISO [EM]:
- Fecha de creación: 1991
Alcance
Standardization in the field of microbeam analysis (measurement, parameters, methods and reference materials) which uses electrons as an incident beam and electrons and photons as the detection signal.
Note:
The purpose is to analyze the compositional and structural characteristics of solid materials. The volume of analysis will generally involve a depth up to 10 micrometers and a surface area less than 100 square micrometers.
Enlaces rápidos
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Programa de trabajo
Borradores y nuevos elementos de trabajo -
Planes de negocio
Planes de negocio de TC para revisión pública -
Área de trabajo
Documentos de trabajo (se requiere cuenta de usuario) -
Aplicaciones electrónicas de ISO
Herramientas de TI que apoyan el proceso de desarrollo de normas -
Material público
Consulte los documentos que pone a disposición este grupo
Este comité contribuye con 7 normas al siguiente Objetivo de Desarrollo Sostenible:
Referencia | Título | Tipo |
---|---|---|
ISO/TC 202/SC 1 | Terminology | Subcomité |
ISO/TC 202/SC 2 | Electron probe microanalysis | Subcomité |
ISO/TC 202/SC 3 | Analytical electron microscopy | Subcomité |
ISO/TC 202/SC 4 | Scanning electron microscopy | Subcomité |
ISO/TC 202/AG | Future Directions in Microbeam Analysis | Grupo de trabajo |
ISO/TC 202/WG 7 | Microbeam analysis - Electron Backscatter Diffraction - Measurement of average grain size | Grupo de trabajo |
Comités de enlace a ISO/TC 202
Los comités que aparecen a continuación pueden acceder a los documentos de ISO/TC 202:
Referencia | Título | ISO/IEC |
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ISO/TC 201 | Surface chemical analysis | ISO |
ISO/TC 201/SC 10 | X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis | ISO |
ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
Comités de enlace de ISO/TC 202
ISO/TC 202 pueden acceder a los documentos de los comités que aparecen a continuación:
Referencia | Título | ISO/IEC |
---|---|---|
ISO/TC 201 | Surface chemical analysis | ISO |
ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
ISO/TC 202 - Secretaría
Tel: +86 10 82 61 84 76
Fax: +86 10 82 61 84 76